Kunststoffe

Unsere Messsysteme messen mit unterschiedlichen Sensortechnologien die Dicke, Schichtdicke oder das Flächengewicht von Kunststofffolien und -platten. Entsprechend der Aufgabenstellung und Anlagensituation werden die Sensoren in C-Messbügel, O-Messrahmen oder Traversen eingebaut.

Messwert Messverfahren
Dicke / Schichtdicke Weißlichtinterferometer | Infrarot
Dicke Chromatisch-konfokal
Flächengewicht (metallisch) Röntgen-/Betastrahlen

Dicken-/Schichtdickenmessung mit Weißlichtinterferometer

Die Messsysteme der OTM-IS Serie sind auf eine präzise Dickenmessung ein- oder mehrschichtiger, transparenter Kunststofffolien ausgelegt. Unterschiedlich einsetzbare Sonden ermöglichen eine optimale Anpassung an das Messobjekt.

Die Traverse ermöglicht Spurmessungen an frei wählbaren Positionen oder eine kontinuierliche Messung des gesamten Querprofiles.

Dicken-/Schichtdickenmessung mit Infrarot-Spektroskopie

Die Messsysteme der OTM-IR Serie eignen sich hervorragend für die Dickenmessungen dünner, ein- oder mehrschichtiger, transparenter Kunststofffolien.

Der Messkopf ist auf einer Traverse montiert. Diese ermöglicht Spurmessungen an frei wählbaren Positionen oder eine kontinuierliche Messung des gesamten Querprofiles.

Chromatisch-konfokale Dickenmessung

Die Messsysteme der OTM-CC Serie sind eine ideale Lösung für eine berührungslose, hochpräzise Dickenmessung von opaken Kunststoffplatten oder anderen Flachprodukten.

Der C-Messbügel ermöglicht Spurmessungen an frei wählbaren Positionen oder eine kontinuierliche Messung des gesamten Querprofiles.

Flächengewichtsmessung mit Röntgen-/Betastrahlen

Die Messsysteme der OBM Serie eignen sich hervorragend zur Messung des Flächengewichts verschiedener bahnförmiger Produkte. Je nach Material werden Röntgen- oder Betastrahler eingesetzt.

Die Messsysteme der OBM-XO Serie messen mit Röntgenstrahlen. Die Beschleunigungsspannung kann zwischen <5 KV bis 30 KV betragen. Die Messsysteme der OBM-BO Serie messen mit Betastrahlen, Kr-85 oder Sr-90.

Der O-Messrahmen ermöglicht Spurmessungen an frei wählbaren Positionen oder eine kontinuierliche Messung des gesamten Querprofiles.